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自動測量光學膜厚儀：工作原理與核心應用解析
2026-9-18
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自動測量光學膜厚儀是一種利用光學原理對材料表面薄膜進行非接觸式、無損檢測的精密儀器。它主要通過光譜反射、光譜橢偏或白光干涉等技術，分析光在薄膜層間反射或透射時產生的干涉信號，從而精確計算出薄膜的厚度以及折射率等光學常數。這種設備不僅測量速度... -
四探針電阻率測量儀由哪些結構組成？2026-8-21
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四探針電阻率測量儀是材料電學性能檢測的常用精密儀器，主要用于測試半導體材料、導電薄膜、金屬板材、粉體涂層等材質的電阻率與方阻參數。材料的導電性能是工業生產與科研研發的重要指標，傳統電阻檢測方式容易受接觸電阻影響，數據偏差較大。四探針檢測法憑...
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光刻硬實力！2026勢銀光刻產業大會將在杭州揭幕2026-6-24
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2026勢銀（第六屆）光刻產業大會確定于6月24-25日以“光刻生態協同發展”為主題在杭州大會展假日酒店舉辦。本次會議設置先進光刻技術研究及創新專場、半導體前道光刻供應鏈專場、新型顯示圖形化技術與材料專場、先進封裝圖形化技術與材料專場四大核...
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倒計時5天！ 優尼康/翌穎科技受邀參加 SIA上海國際半導體技術大會2026-5-29
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SIA上海國際半導體技術大會暨展覽會本次會議將于2026年6月3-5日在上海新國際博覽中心舉辦。當“人工智能+”與“新質生產力”成為制造業變革的核心驅動力，集結1000+智能制造優質企業，預計迎來全球80,000余名專業觀眾。展會深度契合“...
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優尼康/翌穎科技贊助微納器件與系統應用技術大會，初夏五月，邀您共赴大連！2026-5-13
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2026年微納器件與系統應用技術大會定于5月23、24日(22日報道日)在大連隆重召開。作為國內微納器件領域的深度技術交流平臺，由中國半導體行業協會半導體分立器件分會主辦的學術盛會已成功走過十八載。2026年，我們將繼續深耕微納技術沃土，聚...
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光學表面輪廓儀的使用方法與注意事項2026-4-17
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光學表面輪廓儀是一種利用光學干涉、共聚焦或結構光照明原理，對物體表面三維形貌進行非接觸測量的儀器，廣泛應用于精密機械加工、半導體制造、光學元件檢測、材料科學及生物醫學工程等領域。與接觸式探針輪廓儀相比，光學方法不會劃傷被測表面，且測量速度較...
